IM7581阻抗分析仪Z快0.5ms，覆盖100kHz~300MHz的低频 ● 测量频率1MHz~300MHz ● 测量时间：Z快0.5ms ● 基本精度±0.72%rdg. ● 紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小 ● 丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定） ● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量

IM7583阻抗分析仪高速、高稳定性测量，提高生产量！测量时间：Z快0.5ms；使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量

IM7585阻抗分析仪高速、高稳定性测量，提高生产量！测量时间：Z快0.5ms，测量值偏差0.07% ● 测量频率：1MHz~1.3GHz

IM7587 阻抗分析仪 可信赖的机型3GHz ● 测试电压测量频率：1MHz~3GHz ● 测量时间：Z快0.5ms（模拟测量时间） ● 测量值偏差：0.07%（测量频率1GHz时的代表值） ● ● 紧凑主机仅机架一半大小，测试头尺寸仅手掌大小 ● 丰富的接触检查（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定） ● 分析模式下可以边扫描测量频率、测量信号电平边进行测量

3504-60 C测试仪封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等 ● 高速测量2ms ● 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断 ● 对应测试线，比较器功能/触发输出功能 ● 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试 ● 3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试 ● 查出全机测量中的接触错误，提高成品率

3504-50 C测试仪封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等 ● 高速测量2ms ● 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断 ● 对应测试线，比较器功能/触发输出功能 ● 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试 ● 3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试 ● 查出全机测量中的接触错误，提高成品率

3504-40 C测试仪 封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等 ● 高速测量2ms ● 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断 ● 对应测试线，比较器功能/触发输出功能 ● 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试 ● 3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试 ● 查出全机测量中的接触错误，提高成品率

3506-10 LCR测试仪 对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试 ● 模拟测量时间0.6ms（1MHz）的高速测量 ● 提高了抗干扰性，在产线的上也能实现高反复精度 ● 1kHz、1MHz测量下，低电容的贴片时可稳定测量 ● 根据BIN的测定区分容量